chargepumping
于 2009-11-03 发布
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代码说明：
利用charge pumping技术，来测量半导体器件的耐受性及可靠性等相关指标。系统一般包含脉冲源和SMU（源测量仪表）(an skill and measurement method which is using charge pumping to detect characterizaiton of chips )
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