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聚类研究，实现了基于距离，基于密度和改进算法
聚类研究，实现了基于距离，基于密度和改进算法-clustering, based on the distance to achieve, based on density and improved algorithm
- 2022-08-04 06:43:41下载
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mi2020微米CMOS传感器初始代码
Micron MI2020 CMOS SENSOR Initial code
- 2022-11-12 22:35:03下载
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基于粒子的功率因数控制器原理图
PIC based power factor controller card schematic
- 2022-03-10 16:47:22下载
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MC52233 based data acquisition schematic
MC52233 based data acquisition schematic
- 2022-09-21 18:40:03下载
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ultrawideband (UWB) wireless communication RF pulse RFIC transceiver and antenna...
超宽带（UWB）无线通信射频脉冲射频集成收发器和天线系统的生产
- 2022-03-01 02:40:47下载
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Airlines flying ads40 data processing information, there are some principles of...
ads40航飞数据处理资料，有一些原理上的剖析。-Airlines flying ads40 data processing information, there are some principles of the analysis.
- 2022-01-28 19:49:52下载
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Here is on image processing of machine learning information
这里是关于图像处理之机器学习方面的资料--AdaBoost，自适应boosting.
非常经典的资料-Here is on image processing of machine learning information- AdaBoost, adaptive boosting. Very classical information
- 2023-05-27 00:05:04下载
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sap全面概述中文90页
第一章 SAP R/3 生产计划和控制 5
第二章 SAP R/3 物料管理 14
第三章 SAP R/3 销售与分销 2
sap全面概述中文90页
第一章 SAP R/3 生产计划和控制 5
第二章 SAP R/3 物料管理 14
第三章 SAP R/3 销售与分销 22
第四章 SAP R/3 财务会计 34
第五章SAP R/3 管理会计 38
第六章 SAP R/3 资产管理 49
第七章 SAP R/3 质量管理 53
第八章 SAP R/3 人力资源系统 55
-sap overview of Chapter 90 Chinese SAP R/3 Production Planning and Control 5, Chapter II SAP R/3 Materials Management 14, Chapter III of SAP R/3 Sales
- 2022-02-05 04:36:14下载
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这是一篇关于人脸修改的一个文章。对人脸研究这一块，有很好的启发。...
这是一篇关于人脸修改的一个文章。对人脸研究这一块，有很好的启发。-This is a modified a human face on the article. This is a study of human face, there is a good inspiration.
- 2022-08-10 00:00:05下载
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现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度，又有寄存器堆、Cache等嵌入式部件，而且芯片管脚数相对较少，必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代...
现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度，又有寄存器堆、Cache等嵌入式部件，而且芯片管脚数相对较少，必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码，提高故障覆盖率。本文简要讨论NRS4000微处理器芯片的以边界扫描测试为主体，以自测试为补充的可测试性设计框架。着重介绍芯片的边界扫描设计和芯片中译码控制器PLA和微程序ＲＯＭ以及采用内嵌RAM结构的指令Cache和寄存器堆的内建自测试设计。仿真结果表明，这些可测试性设计大大缩短了测试代码的长度。-modern microprocessors have a very high degree of integration and complexity, there Register pile, Cache such as embedded components, but Chip few relatively small, There must be the self-test design and testing of other design code to simplify testing, fault coverage. This paper briefly discussed Key words microprocessor chip to the boundary-scan test as the mainstay, Since the test to add to the test design framework. Highlighting the boundary-scan chip design and chip decoder PLA and micro-controller procedures and the use of embedded ROM RA M structure of the instruction cache and register stack of built-in self-test design. The simulation results show that these tests can greatly shorten the design of the test code length.
- 2022-04-01 18:08:40下载
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