a51
于 2014-12-25 发布
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1.A51产生乱数的频数检验及其二次检验; 2.A51产生乱数的序偶检验及其二次检验; 3.A51产生乱数的自相关检验及其二次检验。 (1. A51 produces frequency test and the second test nonce 2. A51 dual test sequence generation and secondary inspection nonce 3. A51 produce autocorrelation test and the second test nonce.)
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